產品簡介

ICP等離子體發射光譜儀 等離子體發射光譜儀DGS-III ICP等離子發射光譜儀廣泛應用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產品、石油、化工、商檢、環保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等領域需要檢測元素的定量分析及各種高純材料的雜質成份分析，可對72種金屬元素和部分非金屬元素（如B,P,Si,Se,Te）進行分析。

ICP等離子體發射光譜儀  等離子體發射光譜儀  

型號：GR/DGS-III

DGS-III ICP等離子發射光譜儀廣泛應用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產品、石油、化工、商檢、環保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等領域需要檢測元素的定量分析及各種高純材料的雜質成份分析，可對72種金屬元素和部分非金屬元素（如B,P,Si,Se,Te）進行分析...儀器性能達到JJG768-2005A類標準（中華人民共和國國家發射光譜儀計量檢定規程）,綜合性能達到同類儀器的較高水平

詳細說明：

    該型號單道掃描等離子直讀光譜儀的核心部分是高分辯率Czerny Turner單色儀光學系統。它配有3600刻線/mm或者4320刻線/mm的全息光柵，窄的入射狹縫及出射狹縫, 具有很高的分辯率和極低的雜散光，保證了系統在分析復雜基體樣品時，受光譜疊加的影響減到zui小。采用直接驅動裝置傳動光柵，保證了極快的分析速度和好的重現性。采用40.68MHZ RF發生器以保證高的信號背景比（S/B）和很低的檢出限。采用新技術設計了優良的檢測系統，保證了分析質量的可靠。以上這些特點使DGS-Ⅲ 在等離子體發射光譜儀分析中具有非常好的檢出限和任意選擇分析元素的靈活性。從而可分析各種物資材料的樣品成分, 特別在各種高純材料及高純稀土的雜質成分分析方面更具有優勢。該儀器在分析指標、穩定性、分析速度、軟件等各方面的技術指標均達到較高水平。

 1 光學系統

1.1單色儀

   DGS-Ⅲ型光譜儀采用焦矩為1米的Czerny Turner單色儀，光柵為高光強、高分辯率、雜散光極低的全息光柵，單色儀的設計使其對溫度和壓力的變化都具有*的穩定性，因此這種光學系統具有優異的分析性能。

1.2光柵

  使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩定性和信號強度。光柵在高分辯率的條件下也可采集到足夠的光，短的測量時間即可滿足需要，從而減少了所需測量的樣品量。由于雜散光極低，顯著提高了S/B，改善了檢出限。

1.3分辯率

光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復雜譜線的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時間，有較好的檢出限和較高的準確度。DGS-Ⅲ的實際分辯率為：Fe（310.030）<0.007nm。采用3600刻線/mm光柵的光譜范圍為190nm—500nm，可以適用于大部分的光譜分析元素。

1.4光柵直接驅動

   DGS-Ⅲ型光譜儀采用直接驅動光柵的機械傳動方式，計算機控制下的自動波長參比保證波長的機械準確度總是優于0.004nm。由于*的重現性,掃描速度很快,全譜范圍掃描只需7秒.光柵轉動的高速度使得儀器在1分鐘內可以分析15個元素,這意味著節省氬氣和樣品,分析速度快, 穩定性較高。

 2. 激發光源及進樣系統

2.1激發光源

DGS-Ⅲ型光譜儀的激發光源為電子管震蕩電路，具有功率自動調節和相位自動匹配功能,其功率輸出從600W-1200W連續可調,等離子的微小波動可以由自動調節系統補償. 40.68MHZ的等離子發生器符合國家無線電對工業頻率的要求，它安裝在單道掃描儀機箱內部, 構成一整體。

2.2進樣系統

   進樣系統采用目前上*的漩流霧室系統，他具有穩定性好，清洗速度快等優點。使分析速度更快，數據更準確。該儀器測量的短期穩定性RSD<1.5%，二小時以上的長期穩定性RSD<2%。

 3．電子檢測系統和計算機

  DGS-Ⅲ和計算機之間的接口是一個智能微處理系統。它負責和計算機之間的數據通訊、采集數據、控制單色儀驅動系統的精確運動，及提供光電倍增管一組高精度負高壓穩壓電源。

3.1電子檢測系統

l   線性動態范圍zui高可達1×10⁸,足以滿足ICP工作曲線校正的需要;

l     zui小分辯率為2.5×10^-10;

l   PMT電流測量范圍為：10^-12-10^-4安培;

l   高品質的電子系統有助降低儀器的分析檢出限和提高精密度。